
Ученые под руководством профессора Кришны Палема предлагают улучшить характеристики чипов путем "отсечения" редко использующихся элементов интегральных схем. Идея заключается в том, чтобы позволить процессорам совершать ошибки. Исследователи поясняют, что, тщательно рассчитав вероятность ошибок и ограничив типы операций, при выполнении которых они допустимы, можно одновременно снизить потребление энергии и поднять производительность.
Для демонстрации возможностей технологии был создан экспериментальный чип, у которого на одной кремниевой подложке расположены обычные и "усеченные" электронные цепи. Тестирование показало, что последние обеспечивают двукратный выигрыш в быстродействии, энергопотреблении и занимают вдвое меньше места по сравнению с традиционными цепями.
Следующая цель исследователей - воспользовавшись новой методикой, получить прототип микрочипа для конкретной области применения. Работы над таким изделием планируется начать нынешним летом.
Не исключено, что в перспективе предложенная технология поможет в создании портативных устройств с увеличенным временем автономной работы.